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    SpectrumTEQ-EL電致發光量子效率測量系統

    SpectrumTEQ-EL電致發光量子效率測量系統

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    售后聯系信息:
    021-62956600
    產品介紹

    SpectrumTEQ-EL系列電致發光量子效率測量系統,可以針對發光器件的光電特性進行有效測量,系統搭配的QEpro光譜儀具有信噪比、低雜散光等特性,可確保測量結果得準確性;同時,系統配有強大的測試軟件,對話框式的軟件操作界面讓測量過程變得更為簡單。

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    測量參數

    • 量子效率
    • 亮度
    • 量子效率隨電流密度的曲線
    • 色坐標
    • 輻射通量,光通量
    • 主波長

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    應用領域

    • 無機電致發光
    • 有機電致發光
    • 分子薄膜EL器件

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    產品優勢

    • 體積小巧:便于靈活使用及運輸。
    • 原位測量:可放至手套箱內,實現原位測量
    • 流程化操作:設備無需頻繁校準。

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    產品參數

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    系統配置
    配置方案 方案1?方案2
    光譜儀型號QEPro / QE65Pro(可選)
    光譜范圍(nm)350-1100
    信噪比1000:01:00
    分辨率2.5 nm (FWHM)
    動態范圍85000:1(QEPro單次采集);25000:1(QE65Pro單次采集)
    AD位數18-bit(QEPro);16-bit(QE65Pro)
    積分球尺寸3.3”1.5”
    材質Spectralon
    源表Keithley2400
    光纖芯徑1000um(可更換其他芯徑)
    校準燈角度2 Pi?型號HL-3-INT-CAL
    亮度50 流明功率5W(電功率)
    無線遙控 通道數4無遙控
    軟件SpectrumTEQ-EL專用軟件

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    性能參數:

    測試范圍(依配置決定)亮度0.01-2*10 nit6
    通量5*10-6-300 lm
    輻射亮度0.02-2*106mW/Sr/m2
    輻射通量1*10-5-650mW
    亮度重復性>98%
    主波長重復性0.5 nm
    光致量子效率測試結果重復性5%
    電致量子效率測試結果重復性2%

    注:以上測試樣品為標準朗伯體測試結果。

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